IEC/PAS 62161-2000 稳定状态温度湿度偏差寿命试验

作者:标准资料网 时间:2024-05-10 13:16:10  浏览:9953   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Steadystatetemperaturehumiditybiaslifetest
【原文标准名称】:稳定状态温度湿度偏差寿命试验
【标准号】:IEC/PAS62161-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;电子工程;电气工程;温度试验;电子设备及元件;湿度试验;试验;寿命试验
【英文主题词】:electronicequipmentandcomponents;lifetest;temperaturetest;electricalengineering;humiditytest;testing;electronicengineering;semiconductordevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:K04
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语